Microscope AFM modèle 5500 Agilent

Le microscope à force atomique est un type de microscope à sonde locale qui sert à visualiser la topographie de la surface d’un échantillon. Le principe se base sur les interactions à faibles distances entre l’échantillon et une pointe montée sur un microlevier. Ces interactions pouvant être attractives (force de Van der Waals) ou répulsives.

La pointe balaie la surface à représenter, et l’on agit sur sa hauteur selon un paramètre de rétroaction. Un ordinateur enregistre cette hauteur et peut ainsi reconstituer une image de la surface.