Diffractomètre de rayons X

L’utilisation de l’appareil en question offre la possibilité à la plupart des projets  de caractériser les phases cristallines des matériaux à l’étude (sous forme de massifs, poudres ou couches minces) à l’ambiante et à Haute température (jusqu’à 1200°C), sous atmosphère contrôlée (air, azote…). Les transformations de phases en température peuvent être suivies in-situ. L’appareil étant particulièrement dédié à la caractérisation de couches minces L’option de réflectométrie permet en plus de déterminer les épaisseurs de couches fines, de la densité électronique et des rugosités de surface et d’interfaces…