Caractérisation électrique d’assemblages de nanobâtonnets conducteurs par CAFM and EFM pour l’élaboration de capteurs de déformation sur substrats souples

En collaboration avec deux équipes de chimistes de Bordeaux (ICMCB et CBMN), des capteurs de déformation sur substrat souple sont développés au sein du LAAS, en utilisant des nanostructures hélicoïdales 1D décorées avec des nanoparticules métalliques. Ces nanobâtonnets sont ensuite déposés et alignés localement par diélectrophorèse entre des électrodes métalliques interdigitées.

Dans le cadre de ce stage, nous souhaitons obtenir des informations à l’échelle locale sur les modes de conduction électrique dans ces assemblages de nanobâtonnets. Pour cela, deux types de mesures seront réalisées :

1. Mesures de courant latéral entre l’électrode et la pointe AFM par conductive AFM (C-AFM).
2. La modification du potentiel de surface due aux charges électriques transportées ou piégées par Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM).

Il s’agira dans un premier temps d’obtenir les cartographies de courant et de potentiel de surface des assemblages couplées à la topographie. Dans un deuxième temps, nous souhaitons effectuer ces mesures en imposant une déformation connue pour évaluer les modifications de conduction électrique induites dans les assemblages.