Dispositif EDX à très haute résolution

Pour équiper le microscope électronique JEOL 2100
du service commun TEMSCAN de l’université Paul Sabatier
JEOL Jsm 2100F

Microscope Electronique à Transmission avec canon à effet de champ (TEM-FEG)
Date d'acquisition : fin 2005. Mise en service janvier 2006. Tension d'accélération : 200 kV - Imagerie : résolution 2,3 Å - Etage STEM - Acquisition numérique des images : camera CDD Gatan 794 1K x 1K - Analyse X : SDD Brucker (détection d'éléments légers, résolution 127 eV).
La caractérisation chimique de domaine nanométrique est une étape cruciale dans la compréhension et la caractérisation des processus de synthèse ou dans la mise en évidence de processus d’interaction entre deux milieux. Jusqu’à ces dernières années les techniques d’analyse EDX ne permettaient pas d’obtenir des informations chimiques très locales  (qq nm à qq 10 nm) sur des images dont la taille est voisine de quelques centaines de nanomètre. Courant 2009, BRUCKER a prêté quelques mois au service commun TEMSCAN un équipement  EDX équipé d’une nouvelle technologie. Cet appareillage en combinaison avec le JEOL 2100 allie la précision de la microscopie électronique à la cartographie chimique à cette échelle (voir Image 1).
Cette amélioration spectaculaire de la technologie des détecteurs EDX proposée par Brucker a par ailleurs incité JEOL à faire alliance avec OXFORD instruments pour proposer une technologie équivalente.
Dans l’état actuel, l’arrivée de ces produits permet une approche aisée de la composition chimique à une échelle jamais encore envisagée par cette technique.

L’accessibilité de cette technologie dans les disciplines où les nanosciences sont confrontées à la collection d’informations à cette échelle sera un atout essentiel pour la compréhension des mécanismes mis en jeu dans la formation des nano-domaines et/ou aux propriétés physiques et chimiques qui en découlent.

Image 1 : Visualisation de la topographie d’interaction de l’argent avec une cellule. Détection de granules nanométriques contenant de l’argent en périphérie et à l’intérieur d’une levure préalablement soumise à une solution létale de AgNO3 pendant 24 H  (Collaboration LISBP-Laplace)

Image 2 : nanofils de CuO sur Al sur substrat de Si (gauche). Analyse EDX élémentaire avec la caméra SDD FERMaT (droite).
 

Responsable(s): 

Resonsables scientifques FERMaT : C. TENDERO et C. TENAILLEAU (CIRIMAT) et B. DESPAX (LAPLACE) et Murielle MERCIER-BONIN (LISBP/INSA)
Responsable au TEMSCAN : Lucien DATAS (CIRIMAT)

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