Diffractomètre de rayons X

Réf :  D8 ADVANCE A25
N° Série 205536 / CDE 607863

Localisation

CIRIMAT/UPS (Bâtiment CIRIMAT / Rdc)

Contacts

Christophe Tenailleau – christophe.tenailleau@univ-tlse3.fr
Benjamin Duployer – benjamin.duployer@univ-tlse3.fr

Description

L’utilisation de l’appareil en question offre la possibilité à la plupart des projets  de caractériser les phases cristallines des matériaux à l’étude (sous forme de massifs, poudres ou couches minces) à l’ambiante et à Haute température (jusqu’à 1200°C), sous atmosphère contrôlée (air, azote…). Les transformations de phases en température peuvent être suivies in-situ. L’appareil étant particulièrement dédié à la caractérisation de couches minces L’option de réflectométrie permet en plus de déterminer les épaisseurs de couches fines, de la densité électronique et des rugosités de surface et d’interfaces…

Pour utiliser ce matériel :